东芝进一步扩展Thermoflagger 产品线--检测电子设备温升的简单解决方案

栏目:行业动态 发布时间:2023-09-18

 东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,进一步扩展ThermoflaggerTM过温检测IC产品线---“TCTH0xxxE系列”。该系列可用于具有正温度系数(PTC)热敏电阻的简单电路中,用来检测电子设备中的温度升高,六款新产品于今日开始支持批量出货。

   

    为了使电子设备按规定运行,半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数,特别是当它高于设计流程中的假设温度时,它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题,因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。
    当配置在具有PTC热敏电阻(其电阻值随温度变化而变化)的简单电路中时,ThermoflaggerTM过温检测IC不仅可以检测温度升高,还可以检测置于热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化,并在温度过高时输出FLAG信号。例如,当ThermoflaggerTM检测到异常发热情况并向MCU发送FLAG信号时,MCU将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。
    这六款新产品分别是:TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述产品加上已经发布的TCTH021BE和TCTH022BE,进一步扩展了TCTH0xxxE系列产品线,使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的PTCO输出电流[1]的支持,新产品扩大了PTC热敏电阻的可选范围,既可选择推挽型或开漏型FLAG信号输出类型[2],也可选择使用或不使用FLAG信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围,可以实现低电流消耗的灵活电路设计。
    新产品采用小型,符合行业标准SOT–553封装(东芝的封装名称为:ESV),确保TCTH0xxxE系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统,并助力实现尺寸和功耗的双重改善。
    除了已经发布的参考设计过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路(TCTH021BE/开漏型)之外,东芝在其官网上又发布了新版参考设计:过温检测IC ThermoflaggerTM应用电路(TCTH021AE/推挽型)。